Atom probe field-ion microscopy - 30 years of atomic-level analysis
- Författare
- M. G. Burke M. K. Miller
- (Editors: M.K. Miller and M.G. Burke.)
- Genre
- Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Elsevier | 2000 | USA, New York | 254 sidor. ill. |